SGX320 wafer mapping显微镜

此显微镜用于半导体wafer检查，可以生成wafer mapping，有效检查好品区域。产品特点：带有mapping，提高检查效率

Kunoh-BK-01工具显微镜

该显微镜适用于半导体行业产品及WB后线弧的测量。产品优势：1、 非接触光学聚焦系统2、 软件操作方便

SM-TR-67显微镜

1、目镜(F.noΦ)：HWF10x(F.no18)，HWF15x(F.no12)2、物镜(W.Dmm):LM5x(21),LM10x(12.2),LM20x(12.2),LM40x(6.8),LM Plan 100x(3.3)3、尺寸：525(H)x420(D)x360(w)mm

SM-210显微镜

1、目镜(F.noΦ)：HWF10x(F.no18)，HWF15x(F.no12)2、物镜(W.Dmm):DM5x(19),DM10x(7.52),DM20x(2.2),DM40x(0.65),DM Plan 100xdry(0.45)3、尺寸：500(H)x250(D)x200(w)mm

SM-240显微镜

1、目镜(F.noΦ)：HWF10x(F.no18)，HWF15x(F.no12)2、物镜(W.Dmm):LM5x(21),LM10x(12.2),LM20x(12.2)3、尺寸：500(H)x250(D)x200(w)mm

Olympus STM7工具显微镜

STM7系列采用了当前最先进光学显微镜中所使用的UIS2无限远校正光学系统。因此，观察到的图像具有高分辨率和高对比度，此外，像差也被完全消除，以确保实现对微小细节的高精度测量。

Olympus MX61金相显微镜

1、采用高NA的透射光聚光镜，图象更锐利。2、多种观察方式，多种照明方式，多种附件以满足不同应用要求。3、透射和反射照明可同时使用，极大提高液晶基板观察效果。

Olympus SZ51显微镜

1、实现了小型机体的格里诺（Greenough）光学系统 2、观察筒倾角45度/60度可选3、结构紧凑,轻巧,易于和其他设备配套使用(如探针台)5、丰富的辅助物镜扩展里倍率范围6、采用ESD防静电设计